Unterschiede zwischen ISO 25178 und ISO ISO 4287 / ISO 4288
In der nachfolgenden Tabelle sind die Unterschiede zwischen ISO 25178 und ISO 4287 / ISO 4288 zusammengefasst.
Element / Norm | ISO 25178 | ISO 4287 / ISO 4288 | ||
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Messinstrumente | Kontakt-Typen und kontaktlose Typen von Messinstrumenten | Kontakttyp (nur mit Tasterspitze) |
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Querschnitt | Beurteilungsobjekt | S-F-Oberfläche | Querschnittsprofil | |
Filter | S-Filter | λs-Filter | ||
Rauheit | Beurteilungsobjekt | S-L-Oberfläche | Rauheitsprofil | |
Filter | S-Filter, L-Filter | λs-Filter, λc-Filter | ||
Höhenparameter | Maximale Spitzenhöhe | Sp | Rp | |
Maximale Vertiefungshöhe | Sv | Rv | ||
Maximalhöhe | Sz | Rz | ||
Arithmetische mittlere Höhe | Sa | Ra | ||
quadratischer Höhenmittelwert | Sq | Rq | ||
Schiefe | Ssk | Rsk | ||
Wölbung | Sku | Rku | ||
Räumliche Parameter | Sal, Str, Std | – | ||
Hybride Parameter | Sdq, Sdr | RΔq |
Element / Norm | ISO 25178 | ISO 13565-2 | ||
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Rauheit | Funktionale Parameter | Höhenunterschied auf Kernoberfläche | Sk | Rk |
Verringerte Spitzenhöhe | Spk | Rpk | ||
Verringerte Taltiefe | Svk | Rvk | ||
Spitzenmaterialanteil | Smr1 | Mr1 | ||
Talmaterialanteil | Smr2 | Mr2 |
[Achtung] Die obenstehende Tabelle beruht auf den Definitionen für die Oberflächenparameter, wie sie in ISO 25178-2 niedergelegt sind. Bitte beachten Sie, dass sich bei den oben angegebenen Informationen durch Überarbeitungen der Normen nach April 2012 Änderungen ergeben können.