Ladeprüfung beim Halbleiterchiptransport

Die Prüfung dient zur Unterscheidung von Halbleiterchips bei Verwendung eines Saugförderers. Damit können Fehler sicher erkannt werden. Die Modellreihe IV ermöglicht die Erkennung über ein breites Sichtfeld. Dank des kompakten Sensorkopfs ist die Montage auch bei beengter Einbausituation einfach möglich.

Vision-Sensor

Modellreihe IV

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