3D Laserscanning-Mikroskop

Modellreihe VK-X3000

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3D Laserscanning-Mikroskop Modellreihe VK-X3000

Triple Principle Integrated
Messungen im Nanometer-, Mikrometer- und Millimeterbereich sind ab sofort möglich.

Triple Principle Integrated Laser – Weißlichtinterferometrie – Fokusvariation

  • Messungen im Nanometer-, Mikrometer- und Millimeterbereich
  • Durchführen verschiedener Analysen mit nur einem System
  • Auflösung von bis zu 0,01 nm

Modellreihe VK-X3000 - 3D Laserscanning-Mikroskop

Das 3D Laserscanning-Mikroskop der Modellreihe VK-X3000 verwendet drei verschiedene Messprinzipien in einem Gerät vereint, je nach Anwendungsfall können ein konfokaler Laser, Fokusvariation und Weißlichtinterferometrie zum Einsatz kommen. Dies ermöglicht die Durchführung hochpräziser Messungen und Analysen verschiedener Messobjekte mit einer maximalen Auflösung von 0,01 nm. Eine schnelle Erfassung von Messbereichen bis zu 50 × 50 mm, selbst bei handtellergroßen Messobjekten oder solchen mit großen Höhenunterschieden, ist möglich. Dies ermöglicht eine schnelle Analyse sowohl der Gesamtform als auch spezifischer Bereiche. Auch schwierige Materialien, wie beispielsweise mit transparenten und spiegelnden Oberflächen, können schnell, mit hoher Genauigkeit und großflächig gemessen werden. Dieses 3D Laserscanning-Mikroskop kann Messobjekte unabhängig von der Vergrößerung, Oberflächenrauheit und -beschaffenheit (transparenten/spiegelnde Oberflächen) messen.

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Preisinformationen

Fragen

0800-5393623

Merkmale

Grundlegende Eigenschaften

Betrachtung

Großer Vergrößerungsbereich mit nur einem System

  • Vergrößerung 42× bis 28.800×
  • Automatische Fokussierung
  • Betrachten beliebiger Materialien

Messung

Schnelle, berührungslose Oberflächenerfassung

  • Keine Beschädigung der Messobjekte
  • Präzise Messung im Nanometerbereich
  • Für jede Form geeignet und materialunabhängig

Analyse

Vielseitige Oberflächenanalyse

  • Quantifizierung der Oberflächenstruktur
  • Vergleich mehrerer Messobjekte
  • Rauheitsanalyse

Triple Principle Integrated

Weißlichtinter- ferometrie / Konfokaler Laser / Fokusvariation

Es stehen drei verschiedene Messmethoden zur Verfügung: konfokaler Laser, Fokusvariation und Weißlichtinterferometrie. Die Auswahl der geeigneten Messmethode für das Material und den Messbereich des Objekts gewährleistet eine hochpräzise Auswertung.

Auflösung von bis zu 0,01 nm

Formabweichungen in der Größenordnung von Nanometern können genau gemessen werden.
Selbst herausfordernde Materialien, wie z. B. solche mit transparenten und spiegelnden Oberflächen, können schnell, mit hoher Genauigkeit und über große Flächen gemessen werden.

Schnelle Messung über einen großen Messbereich
Analyse großer Messbereiche

Schnelle Erfassung von Messbereichen bis zu 50 mm × 50 mm, selbst bei Messobjekten mit großen Höhenunterschieden. Somit sind schnelle Analysen sowohl der Gesamtform als auch spezifischer Bereiche möglich.

Hochpräzise Oberflächenerfassung sowohl bei geringer als auch bei hoher Vergrößerung

Vielfältige hochauflösende Oberflächenanalyse