LumiTrax™-Spiegelreflexionsbeleuchtung

EINE Aufnahmesequenz - ACHT Ergebnisbilder
Oberflächeninspektion in einer neuen Dimension: Kleinste Defekte sichtbar machen mit Deflektometrie.

Ultra-High-Speed-Synchronisation von CMOS-Sensor und Lichtemissionsmuster ermöglicht die Erzeugung mehrerer Bilder aus einer einzigen Bilderfassung entsprechend den Prüfdetails. Eine Abweichung von Oberflächendefekten, die zuvor nur durch das menschliche Auge erkannt werden konnte, kann jetzt bei der Inline-Messung visualisiert werden.

LumiTrax™-Spiegelreflexionsmodus – Funktionsprinzip

Einzelbilder werden mit unterschiedlichen Streifenmustern erfasst

Zusammengesetztes Ergebnisbild

Erzeugung mehrerer Bilder anhand verschiedener Berechnungsmethoden

Ein eigenes Ergebnisbild für jede Fehlerklasse

Bildtyp
(1) Normales Bild (2) Spiegelnder Anteil (3) Diffuser Anteil (4) Glanzgrad (5) Topografie
Bilderstellungsmethode Mittelung aller erfassten Bildern Extraktion der Spiegelreflexionsbereiche des Streifenmusters Extraktion von diffusen Reflexionen durch Vergleich von normalen und Spiegelreflexionsbildern Extraktion von uneinheitlich glänzenden Flächen durch den Vergleich von spiegelnder und diffuser Reflexion Extraktion von Formabweichungen durch deflektometrische Verfahren
Hautanwendungen Gesamtbild als Grundlage für die Positionskorrektur Prüfung von glänzenden Oberflächen auf Riefen, Defekte durch Abrieb etc. Inspektion auf Fremdpartikel und Schmutz Prüfung auf matte Stellen sowie Fehler an Zylindern oder anderen Oberflächen Prüfung auf Dellen, kleine Unebenheiten etc.

Anwendungsbeispiele

Oberflächenprüfungen von Mantelflächen aus Metall

Porenbildung und Unebenheiten in Oberflächen (Topografie)
Riefen (diffuser Anteil)
Abrieb (spiegelnder Anteil)