Das konfokale 3D Laserscanning-Mikroskop VK-X ist ein berührungsloses 3D-Oberflächenmesssystem, welches u. a. materialunabhängige und präzise Rauheitsmessungen mit einer Auflösung im Nanometerbereich durchführt.
Das VK-X nutz die Daten der gesamten Oberfläche, um ISO-basierte Rauheitsmessungen durchzuführen. Die Rauheit kann aus Bereichen berechnet werden, die oft von der Linienmessung übersehen werden, um eine genaue und zuverlässige Messung zu ermöglichen.